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產品資料

日本napson電阻測量半自動裝置

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產品名稱: 日本napson電阻測量半自動裝置
產品型號: RG-100PV
產品展商: 其它品牌
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置
玻璃基板上薄膜的四探針法半自動測量儀
XY軸機構臺
平面內多點測量配備了均勻螺距或隨機螺距設置選擇以及2-D ??/ 3-D映射軟件。


日本napson電阻測量半自動裝置  的詳細介紹

日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置

 

測量規(guī)格

測量目標日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置

  • 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
  • 硅基外延離子注入樣品
  • 與化合物半導體有關的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
  • 其他（*請與我們聯(lián)系）

測量尺寸

大300 x 300毫米（選件;大500 x 500毫米）

 

測量范圍日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置

[電阻（比電阻）] 1m至200Ω·cm 
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq（選件；?10MΩ/ sq）

測量規(guī)格

測量目標

  • 與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導電薄膜相關（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基薄膜（LTPS等），IGZO
  • 硅基外延離子注入樣品
  • 與化合物半導體有關的（GaAs，Epi，GaN，Epi，InP，Ga等）
  • 其他（*請與我們聯(lián)系）

測量尺寸日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置

大300 x 300毫米（選件;大500 x 500毫米）

 

測量范圍

[電阻（比電阻）] 1m至200Ω·cm 
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq（選件；?10MΩ/ sq）

映射圖像日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置

  • 半自動類型<br />（多點測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC]）
  • 半自動類型<br />（多點測量系統(tǒng)[包括軟件+ PC]）

 日本napson平板電阻薄層電阻測量半自動裝置

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