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產(chǎn)品資料

日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀

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產(chǎn)品名稱: 日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀
產(chǎn)品型號: AE-162D
產(chǎn)品展商: 其它品牌
產(chǎn)品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀
適用
于 D，F(xiàn)，G，J，K類，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機


日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀  的詳細介紹

日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀

 

  • 模擬到數(shù)字隔離，提高了抗噪聲能力，具有很高的穩(wěn)定性
  • 與極小的芯片兼容（低功率測量）
  • 超高速0.7毫秒（代表值）
  • 通過靜態(tài)功率抵消測量實現(xiàn)高精度和高穩(wěn)定性
  • 日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀通過對每個范圍進行測量值積分時間設置功能，實現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量
  • ％測量：±99.99％[5mΩ-109MΩ]
  • 測量：0.00mΩ?200.00MΩ
  • 接觸檢查：測量前/測量后/ OFF
  • RS-232C接口標準設備（GP-IB是可選的）
  • 打印機輸出標準設備（與Centronics兼容）
  • 設置值傳送功能作為標準設備：（相同的設置數(shù)據(jù)可以傳送到另一臺AE-162D并自動設置）
  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路的標準設備

校準后180天[校準后1年：1.5倍]的測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）

測量范圍 標準值設定范圍 實測電流 測量精度*
慢 快速
100毫歐 5mΩ-100mΩ 100毫安 ≤±0.02％±2a±2d ≤±0.03％±3a±2d±[2 /（1 + n）] d
1Ω 100.1mΩ?1Ω 100毫安 在±0.02％±a±1d之內(nèi) ≤±0.02％±a±2d±[2 /（1 + n）] d
10Ω 1.001Ω?10Ω 50毫安
100Ω 10.01Ω-100Ω 10毫安 ±0.02％±1d以內(nèi) 在±0.02％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
1kΩ 100.1Ω?1kΩ 5毫安
10kΩ的 1.001kΩ?10kΩ 0.5毫安
100kΩ的 10.01kΩ-100kΩ 50微安
1兆歐 100.1kΩ?1MΩ 5微安 在±0.05％±2d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
10兆歐 1.001MΩ?10MΩ 0.5微安 ±0.03％±1d以內(nèi) 在±0.2％±4d±[1 /（1 + n）] d之內(nèi)
100兆歐 10.01MΩ?109MΩ 0.05微安 ±0.1％±2d以內(nèi) ───

* D =數(shù)字，n =積分時間（毫秒），％測量：α=（100 /標準設定值mΩ）x 0.01％，值測量：α= 0（加±1d）
*完整屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間 外部啟動 自由奔跑
日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀慢 快速 慢 快速
大約18毫秒-400毫秒 大約0.7毫秒-400毫秒 約30次/秒?
約2次/秒 		約60次/秒?
約2次/秒
測量端子開路電壓 15V以下
測量結束信號（EOC）脈沖寬度 1到250毫秒，并且可以連續(xù)設置
測量方式 4端子測量/ 2端子測量可切換
判斷值設定范圍 ％測量：±99.99％，值測量：00000-20000
周邊環(huán)境 日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀溫度：0°C至+ 50°C，濕度：80％以下
需要電源 AC85V?265V，50Hz?60Hz，約50VA
外形尺寸 333（w）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起）
重量 約3.5kg
選項 ? GP-IB
?日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀數(shù)據(jù)傳輸線
?短接（零歐姆標準電阻）
?轉換適配器（3P x2?5P）

 日本ae-mic超高速芯片電阻測試儀AE-162D

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